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解決方案
相控陣天線環試測試係統
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方案（àn）概述
相控陣天線環試測試係統主要用於多種型號相控陣天線的溫度（高溫、常溫（wēn）、低溫）、振動等（děng）環境試驗，根據不同環試條（tiáo）件下所得產品參數對產品環試適應性指標進行標（biāo）定，能夠實現多台產（chǎn）品批量（liàng）測試。隨著相控陣天線產品批量生產任務的不斷增加，需要應對（duì）產能擴充帶來的硬件升級，相控陣天線環（huán）試測試係統（tǒng）設計方案根據對產品測試需求的可行性研究（jiū）與分析，建立了（le）基於“核心測試設備+主控計算機+測試應用開（kāi）發”的設計（jì）思路，使測試係統（tǒng）總體（tǐ）架（jià）構更通用化，也使測試係統具有使用便捷、可靠性好、安（ān）全性高、測試精度高及可擴展性等技（jì）術特點（diǎn）。
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功能特點
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主要特點
l 相控（kòng）陣（zhèn）天線環試（shì）測試係統能（néng）進行相控陣（zhèn）天線的接（jiē）收、發（fā）射環境試驗
l 能兼容（róng）多（duō）種（zhǒng）型號的（de）相控陣天線環境試驗
l 通過射頻信號處理單元、波控信號處理單元、電源切換單元等專用設備實現多（duō）個（gè）被測（cè）件的（de）測試（shì）（測（cè）試設備分時複用）
l 可同次進行不同型號的相控陣天（tiān）線環境試驗（yàn）
l 具備信息化（huà）管理功能
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典型應用
相控陣天線環（huán）試測試係統主要用於相控陣天線的接收、發射環境試驗。
技（jì）術規範
參數名稱
技（jì）術指標
頻段
可選頻段
Ku波段、Ka波段（可擴（kuò）展（zhǎn）其他頻段）
工業級計算（suàn）機配置
PXI機箱
9槽
PXI控製器
i7、8G、1T固（gù）態硬（yìng）盤
射頻（pín）/微波儀器
信號發生器（qì）
頻段10MHz~40GHz
信號/頻譜分析儀
頻段（duàn）10MHz~40GHz
功率計
頻段10MHz~40GHz
專用設備
射頻信號處理單元
集成各波（bō）段功放，16個通道
波控信號處理單元
16個通道
電源切（qiē）換單元（yuán）
16個通道
電（diàn）源供電
係統供電
220V±10%，≤2000W；380 V±10%，≤2000W
大功率程控電源
10kW，500V/60A
程控電源
8路（2路20 V/15 A、6路35 V/8.5A）
測（cè）試參數
相控陣（zhèn）天線發射（shè）性能
天線發射相關參數
相控陣天線接收性能
天線接收相關（guān）參數
可靠（kào）性（xìng）指標
穩定、可靠工作時間
≥240 h
故障恢複時間
≤10 min
訂貨（huò）信息
設（shè）備名稱
數（shù）量
相控陣天線（xiàn）環試測試係統
1套
用戶手冊
1套
合格證
1套
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