產品（pǐn）綜述

6433P光波（bō）元件分析儀是麵向高速電光器件、光電器件及光光器件調製特性（xìng）測試的（de）儀器（qì），頻率範（fàn）圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試（shì）、光電（diàn）測試及光（guāng）光測試4種測試模式，具有對數/線（xiàn）性幅（fú）度、相位、群時延、Smith圓圖、極（jí）坐標等多種顯示格式（shì），能夠精確（què）測量光電網絡的幅/相（xiàng）頻特性，主（zhǔ）要應用於高速電光器件（電光強度調製器、直（zhí）接調製（zhì）激光器、光發射組（zǔ）件（jiàn））、光電（diàn）器件（探測器、光發射組件、探測器芯片）及光光器（qì）件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅（fú）/相頻、群時延等頻響參數（shù）的測（cè）試。


功能特點（diǎn）

  • 主要特點

    10MHz~110GHz 寬（kuān）頻帶同（tóng）軸覆蓋；

    最小頻率分辨率1Hz；

    測試功能豐（fēng）富，具備傳輸、反射等多種參數測試功能；

    一體化多（duō）功能測試界麵；

    向（xiàng）導式校準及一鍵式快速掃頻測試；

    多窗（chuāng）口顯示及快速分析；

    自動夾具移除，快速獲取探針（zhēn）數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指（zhǐ）令集，可（kě）實現自動測（cè）試


  • 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋

    6433P光波元件分析儀（yí）調製頻率最高（gāo）可達110GHz，最小頻率分辨率為1Hz，可實現高速（sù）寬頻帶光器件及光芯片調製特性測試。


  • 一體化多功能測試向導界麵

    6433P光波元件分析儀具備（bèi）電電、電光、光（guāng）電、光光四種測量模式（shì），功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界麵方便（biàn）用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的設置。

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  • 向導式校準及一鍵式測試

    6433P光波元（yuán）件分（fèn）析儀進行微波域的電電校準及光波域（yù）的光路校準時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校（xiào）準，獲得被測件準確（què）的測試結果。同時采用（yòng）一體化集（jí）成設計方案（àn），利用核心算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速（sù）掃頻測試。


  • 多窗口快速顯示及分析

    6433P光波元件分析儀最多（duō）支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口最（zuì）多可同時（shí）顯示16條測試軌跡，可（kě）實現結果的多窗口、多格式顯示。

    高分辨率多點觸控電容屏可快速實現（xiàn）各種輸入和選（xuǎn）擇操作，快（kuài）捷高效，便於用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體（tǐ）驗。

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  • 自動夾具（jù）移除（chú），快速獲取探針數據

    6433P光波元件分析儀利用（yòng）自（zì）動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數測（cè）試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具，通（tōng）過自動夾具移除功能（néng）測量高頻探針的時域參數，利用信號流圖提取頻域參數（shù），形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參（cān）數測（cè）試（shì）。

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型號

調製頻率範圍

工作波長（zhǎng）

光功率測試範圍

動態範（fàn）圍

對比

產品配置

  • 第一步:

    主機型號

    * 請先配置主（zhǔ）機型號

  • 第二步:

    硬件選件

    * 請（qǐng）先配置硬件選件

  • 第三步:

    軟件選件

    * 請先配置軟件選件

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