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6433D,6433F,6433H,6433L光波元件分析儀
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主機型號

編號	名稱	描述
6433D	光波元件分析儀	頻率範圍:10MHz～26.5GHz
6433F	光波元件分析儀	頻率範圍:10MHz～43.5GHz
6433H	光波元件分析儀	頻（pín）率範圍:10MHz～50GHz
6433L	光波元件（jiàn）分析儀（yí）	頻率範圍:10MHz～67GHz

選件型號

編號	名稱	描述	選配
6433L-405	四（sì）端口T型偏置器	內部配（pèi）置4個T型偏置器,用於（yú）端口輸（shū）出直（zhí）流偏（piān）置電壓，必選6433L-400+6433L-401+6433L-404，與6433L-403不可同時選配。
6433L-404	四端口可（kě）配置測試裝置	對四端口機型的測試裝置進行擴展，增（zēng）加（jiā）麵板跳線，可獨（dú）立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433L-400。
6433L-402	有源互（hù）調失真測量	用於有源互調失真信號測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S20。
6433L-401	四端口程控步進衰減器	配置源通路4個50dB程控步進衰減器，接（jiē）收（shōu）機通路4個50dB程控步進衰減器,必選6433L-400+6433L-404。
6433L-400	四端口測量（liàng）	雙源激勵四端（duān）口光波元件分析儀配置，頻率範（fàn）圍10MHz ～67GHz。
6433L-205	二端口T型偏置（zhì）器	內部配置2個T型偏置器，用於端（duān）口輸出（chū）直流偏（piān）置電（diàn）壓，必選6433L-201+6433L-204，與6433L-203不可同時選配。
6433L-204	二端口可配置測試裝置	對二端口機型的測試裝置進（jìn）行擴展，增加麵板（bǎn）跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。
6433L-201	二端口程控（kòng）步進衰減器	配置源通路2個50dB程控步進衰減（jiǎn）器，接收機通路2個50dB程控步進衰減器,必選6433L-204。
6433L-023	混（hún）頻器矢量測量功能	用於混（hún）頻（pín）器矢量（liàng）參數測量，二端口必選6433L-204+6433L-S20，四端口必選6433L-404+6433L-S20。
6433L-012	多功能光波分析裝置	頻率範圍：10MHz~67GHz，用於對光波的光（guāng）電/電光模塊測試的數據校驗。
6433L-011	OE標準件（jiàn）	頻率範圍（wéi）:10MHz～67GHz,用於對光電測試模塊的數據校驗。
6433L-008	脈衝（chōng）測（cè）量	用於（yú）脈衝狀態（tài）下S參數測量。
6433H-405	四端口T型偏置器	內部配置4個T型偏置器,用於端口輸出直流偏置電壓，必選6433H-400+6433H-401+6433H-404，與6433H-403不可同（tóng）時選配。
6433H-404	四（sì）端口（kǒu）可配置（zhì）測試裝置（zhì）	對四端口機型的測試裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨（dú）立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433H-400。
6433H-402	有源互調失真測量	用於有源互（hù）調失真信號測量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S20。
6433H-401	四端口程控步進衰減器		配置源通路4個60dB程控步進衰減器，接收機通路4個35dB程（chéng）控步進（jìn）衰減器,必選6433H-400+6433H-404。
6433H-400	四端口測量	雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻（pín）率範圍10MHz ～50GHz。
6433H-205	二端口T型偏置器	內部配置2個T型偏置器，用於端口輸出直流偏置電壓，必選6433H-201+6433H-204，與6433H-203不可同時選配。
6433H-204	二端口可配置（zhì）測試裝置	對二端口機型的測試裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。
6433H-201	二端口程控步進衰減器（qì）	配置源通路2個60dB程控步（bù）進衰減器，接（jiē）收（shōu）機通路2個35dB程控步進衰減器,必選6433H-204。
6433H-023	混頻器矢量測量功能	用於混頻器矢（shǐ）量參數測量，二端口必選（xuǎn）6433H-204+6433H-S20，四端口必選6433H-404+6433H-S20。
6433H-012	多功（gōng）能光波（bō）分析裝置	頻率（lǜ）範圍（wéi）：10MHz~50GHz，用於對光波的光電/電光模塊測試的數（shù）據校驗。
6433H-011	OE標準件	頻率範圍:10MHz～50GHz,用於對光電測試模塊的數（shù）據校驗。
6433H-008	脈衝測量	用於脈衝狀態（tài）下S參數測量。
6433H-003	噪聲係數測量	用於（yú）S參（cān）數、噪聲係數和噪聲參數的精確測量，二端口必（bì）選6433H-201+6433H-204，四端口必選6433H-401+6433H-404。
6433F-405	四端口（kǒu）T型偏置器	內部配（pèi）置4個T型偏置器,用於端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-400+6433F-401+6433F-404，與6433D-403不可同時（shí）選配。
6433F-404	四端口可配置測試裝置	對（duì）四端口機（jī）型的測試裝置進行擴展（zhǎn），增加麵板跳線，可獨立使（shǐ）用（yòng）A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433F-400。
6433F-402	有源互調失真測量	用於（yú）有源互調失真信號測量（liàng）,必選（xuǎn）6433F-400+6433F-404+6433F-S20。
6433F-401	四端口程控步進衰減器	配置源通路4個60dB程控步進衰減器，接收機通路（lù）4個35dB程控步進衰（shuāi）減器,必（bì）選6433F-400+6433F-404。
6433F-400	四端口測量	雙源激勵四端（duān）口光波元件分析儀配置，頻率範圍10MHz ～44GHz。
6433F-205	二端口T型偏置器	內部配置2個T型偏置器，用於端口輸出直流偏置電壓，必選6433F-201+6433F-204，與6433F-203不可同時選配。
6433F-204	二端口可配置測試裝置	對二端口機型的測（cè）試裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨立使用A、B、R1、R2 接收機。
6433F-201	二端口程控步進衰減器	配置源通路2個60dB程控步進衰減器，接（jiē）收機（jī）通路2個35dB程控步進衰減器,必選6433F-204。
6433F-023	混頻（pín）器矢量測量功能	用於混頻器矢量參（cān）數測量，二端口必選6433F-204+6433F-S20，四端口必選6433F-404+6433F-S20。
6433F-012	多功能光波分析裝置	頻率範圍：10MHz~44GHz，用於對（duì）光波的光電/電光模塊測試的數據校驗。
6433F-011	OE標準（zhǔn）件	頻率範圍:10MHz～44GHz,用於對光電測試模塊的數據校驗。
6433F-008	脈衝測量	用（yòng）於脈衝狀態下S參數測（cè）量。
6433F-003	噪（zào）聲係數測量	用於S參數、噪（zào）聲係數和噪聲參數的精確測量，二端口必選6433F-201+6433F-204，四端口必選6433F-401+6433F-404。
6433D-405	四端口（kǒu）T型偏置器	內部（bù）配置4個T型（xíng）偏置器用於端口輸（shū）出（chū）直流偏置電壓，必選6433D-400+6433D-401+6433D-404，與6433D-403不可同時選（xuǎn）配。
6433D-404	四端口可（kě）配置測試裝（zhuāng）置	對四端口機（jī）型的測試裝置進行擴展，增加麵板跳線，可獨立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收機，必選6433D-400。
6433D-402	有（yǒu）源互調失真測量	用於（yú）有源（yuán）互調失真信號測量,必選6433D-400+6433D-404+6433D-S20。
6433D-401	四端口程控步進衰減器	配置源通路4個70dB程控步進衰減器，接收機通路4個35dB程控步進衰減（jiǎn）器,必選6433D-400+6433D-404。
6433D-400	四端（duān）口測量	雙源激勵四端口光波元件分析儀配置，頻率範（fàn）圍10MHz ～20GHz。
6433D-205	二端口T型偏置器	內部配置2個T型偏置器，用於端口輸（shū）出（chū）直流偏置電壓，必選6433D-201+6433D-204，與6433D-203不可同時選配。
6433D-204	二端口可配置測試裝置	對二端口機型的測試裝置進行擴展，增加（jiā）麵板跳線，可獨立使（shǐ）用A、B、R1、R2接收機（jī）。
6433D-201	二（èr）端口程控步進衰減器	配置源通路2個70dB程控步進衰減器，接收（shōu）機通路2個35dB程控步進（jìn）衰（shuāi）減器，必選6433D-204。
6433D-023	混（hún）頻器矢量測量功能	用於（yú）混頻器矢量參數測量，二端（duān）口必選6433D-204+6433D-S20，四端口必選6433D-404+6433D-S20。
6433D-012	多功能光波分析裝置	頻率範圍：10MHz~20GHz，用於對光波（bō）的光（guāng）電/電光模（mó）塊測試的數據校驗（yàn）。
6433D-008	脈衝測量	用於脈衝狀態下S參數測量。
6433D-003	噪聲係數測量	用於S參數、噪聲係數和噪聲參數的精確測量，二（èr）端口必（bì）選6433D-201+6433D-204，四端口必選6433D-401+6433D-404。

軟件（jiàn）型號

編號	名稱	描述	選配
6433L-EWT1	保修（xiū）期以外延長保修1年	保（bǎo）修期以外延長保修1年，2年延保可選2項（xiàng），以此類推，服務不含校準，僅含（hán）單（dān）程貨品運費。
6433L-S30	頻（pín）譜分（fèn）析功能	用於（yú）提供多通道頻譜測試功能。
6433L-S28	相位掃描測（cè）量功能（néng）	用於相位掃描測量，必選6433L-400。
6433L-S26	增益壓縮測量功能	用於放大器等（děng）有源（yuán）器件的增益壓縮測量。
6433L-S24	嵌入（rù）式本（běn）振變（biàn）頻器測（cè）量功能	用於內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433L-204+6433L-S20,四（sì）端口必選（xuǎn）6433L-404+6433L-S20，必選6433L-S22或6433L-023。
6433L-S22	混（hún）頻器標量測量功能	用於混頻器（qì）標量參數測量，必選6433L-S20。
6433L-S20	頻偏測量功能	用於（yú）頻率（lǜ）偏移測量。
6433L-S18	快速連續波掃描功能	使（shǐ）用FIFO 緩衝（chōng）法，即時讀取（qǔ）數據。
6433L-S16	真實（shí）差（chà）分測量功（gōng）能	用於真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433L-400+6433L-404+6433L-S28。
6433L-S11	高級（jí）時域分析	用於TDR時域阻抗（kàng）測試、眼圖分析等，購買6433L-S11贈送（sòng）6433L-S10。
6433L-S10	高級時域分析	用於TDR時域阻抗測試、眼圖（tú）分析等，購買6433L-S11贈送6433L-S10。
6433L-S07	自動夾具（jù）移除（chú）功能	用於單端及平衡器（qì）件測量夾具自動測試及移除
6433L-S05	S參數信號完整性分析功能	用於分析係（xì）統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特（tè）性，可自動將（jiāng）圖形曲線轉換成測試報告。
6433H-EWT1	保修期以外延長保修1年	保修期以（yǐ）外延長保修1年，2年延保可選（xuǎn）2項，以此類推，服務不（bú）含校準，僅含單程貨品（pǐn）運費（fèi）。
6433H-S30	頻譜分析功能	用於提供多通道頻譜測試功能。
6433H-S28	相（xiàng）位掃描測（cè）量功能	用於相位掃描測量，必選6433H-400。
6433H-S26	增益壓縮測量功能	用於放大（dà）器等有源器件的（de）增益壓縮測量。
6433H-S24	嵌入式本振變頻器測（cè）量功能	用於內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433H-204+6433H-S20,四端口必（bì）選6433H-404+6433H-S20，必（bì）選6433H-S22或6433H-023。
6433H-S22	混頻器標（biāo）量測量（liàng）功（gōng）能	用於混頻器標量參數測量，必選6433H-S20。
6433H-S20	頻偏測量功能（néng）	用於頻率偏移測量。
6433H-S18	快速連續波掃描功能	使用FIFO 緩衝法（fǎ），即時讀（dú）取（qǔ）數據。
6433H-S16	真實（shí）差分測（cè）量功能	用於真實差模、共模激勵（lì）平衡參數測量,必選6433H-400+6433H-404+6433H-S28。
6433H-S11	高級時域分析	用於TDR時域阻抗（kàng）測試、眼圖分析等，購買6433H-S11贈送6433H-S10。
6433H-S10	時域測量	用於時域測量，可確定器件、夾具或電纜中（zhōng）不連續位置（zhì）並進行分析（xī）
6433H-S07	自動夾具（jù）移除功（gōng）能	用於單端及平衡器件測量夾具自（zì）動測試及移除
6433H-S05	S參數（shù）信號完整性（xìng）分析功能	用於分析係統的頻（pín）域、時域TDR 和串擾等信號（hào）完整性特性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告。
6433F-EWT1	保修期以外延長保修（xiū）1年	保修（xiū）期以外延長保修1年，2年延保可選2項，以此類推，服務不含校準，僅含單程貨品運費。
6433F-S30	頻譜分析功能	用於提供多通道頻譜測試功能。
6433F-S28	相位掃描測量功能	用於相位掃描測量，必選6433F-400。
6433F-S26	增益壓（yā）縮測量功能	用於放大（dà）器（qì）等有源器件的增益壓縮測量（liàng）。
6433F-S24	嵌入式本振變頻器測（cè）量功能	用於內嵌（qiàn）本振變（biàn）頻（pín）器測量，二端口必選6433F-204+6433F-S20,四端（duān）口必選6433F-404+6433F-S20，必選6433F-S22或6433F-023。
6433F-S22	混頻器標量測量功能	用於混頻（pín）器標量參數測（cè）量，必選6433F-S20。
6433F-S20	頻偏測（cè）量功能	用於頻率偏移測量。
6433F-S18	快速連續波掃描功能	使用（yòng）FIFO 緩衝法，即時讀取數（shù）據。
6433F-S16	真實差分（fèn）測量功能（néng）	用於真實差模、共模激勵平衡參數測量,必選6433F-400+6433F-404+6433F-S28。
6433F-S11	高級時域分析（xī）功能（néng）	用於TDR時（shí）域（yù）阻抗測試、眼圖分析等，購買（mǎi）6433F-S11贈送6433F-S10。
6433F-S10	時域測量（liàng）功能	用於時域測量，可確定器件、夾具或電纜中不連續位置並進行分析
6433F-S07	S參數信號完整（zhěng）性分析功能	用於分析係統的頻域、時域TDR 和串擾等信號完整性特性，可（kě）自動將圖形曲線轉換成測（cè）試報告。
6433F-S05	四端口T型偏置器	內部（bù）配置4個T型偏置器,用於（yú）端口（kǒu）輸出直流偏置電壓，必選6433F-400+6433F-401+6433F-404，與6433D-403不可同時選配。
6433D-EWT1	保修期以外延長保修1年	保修期以外延長保修1年，2年延保可（kě）選2項，以此類（lèi）推，服務不含校準，僅含單程貨品運費。
6433D-S30	頻譜分析功能	用於提供多（duō）通道頻譜測試功能。
6433D-S28	相位掃（sǎo）描測量（liàng）功能（néng）	用於相位掃描測量，必選6433D-400。
6433D-S26	增益壓縮測量功能	用於放大器等有源器（qì）件的增益壓（yā）縮測量。
6433D-S24	嵌（qiàn）入式本振變頻器測量功能		用於內嵌本振變頻器測量，二端口必選6433D-204+6433D-S20,四端口（kǒu）必選6433D-404+6433D-S20，必選6433D-S22或6433D-023。
6433D-S22	混頻器標量測量功能	用於（yú）混頻器標量參（cān）數（shù）測量，必選6433D-S20。
6433D-S20	頻偏測量功能	用於頻率偏移測量。
6433D-S18	快速連續波（bō）掃描功能	使用FIFO 緩衝法，即時讀取數據。
6433D-S16	真實差分測量功能	用於真實差模、共模激（jī）勵平衡參數測量,必選（xuǎn）6433D-400+6433D-404+6433D-S28。
6433D-S11	高級時域（yù）分析功能	用於TDR時域阻抗測試、眼（yǎn）圖分析等，購買（mǎi）6433D-S11贈送6433D-S10。
6433D-S10	時域測量功能	用於時域（yù）測量，可（kě）確（què）定器件、夾（jiá）具（jù）或電（diàn）纜中不（bú）連續位置並進行分析。
6433D-S07	自動夾具移除功能	用於（yú）單端及平衡（héng）器件測量夾具自動測試及移（yí）除。
6433D-S05	S參數信號完整性分析功能	用於分析係統的頻域、時域TDR 和串擾等（děng）信號完整性特性，可自動將圖形曲線轉換成測試報告。

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