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網絡分析儀
3674係列矢量網絡分析儀
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配（pèi）置選件
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獲取報價（jià）
頻率範圍（wéi）
500Hz～110GHz
諧波抑製
-60dBc@20GHz
係統動態範圍
131dB@20GHz
係統跡線噪（zào）聲（IFBW:1kHz）
0.002dB@10GHz
反射跟蹤
±0.01dB@10GHz
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產品綜述
Ceyear 3674係列矢量網絡分析儀是技術創新的巔峰之作，可以輕鬆應對半導體芯片（piàn）測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試（shì）、微波部組件測試等帶來的嚴峻挑戰。出色的射頻特性、靈活的硬件（jiàn）配置和豐（fēng）富的軟件功能相輔（fǔ）相成，隻需一次連接即可完成多（duō）種測量任務。創新的人機交互設計可幫助您快速便捷地完成所需的測（cè）量設置（zhì），超大觸摸屏為您帶（dài）來靈活、高效的操作體驗。
功能特點
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脈（mò）衝S參數測量
內置4路脈衝發生器，用於內（nèi）部源調製、中（zhōng）頻門控製，並（bìng）從後麵板輸（shū）出。每路脈衝（chōng）發生器的脈（mò）寬和延時獨立可設。
源調製來源包括後麵板輸入、內部脈衝發生器和（hé）常開、常閉等多種狀態，既可利用外部脈衝對矢量網絡分析儀的源進行調製，也可以使其（qí）處於連續波狀態，通過觸發同（tóng）步模式進行（háng）測量，為T/R組件、天線收發模塊等測試提（tí）供（gòng）有（yǒu）力支撐。
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混頻器/變頻器標量測量分析（xī）
提供完善的混（hún）頻器/變頻器特（tè）性設置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃（sǎo）、段掃等多種掃描類型（xíng）；通過簡單設置（zhì）可自動完成複雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支持源端口（kǒu）功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設置等。
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混頻（pín）器/變頻器矢量測量分析
提供完整（zhěng）的混頻器/變頻器（qì）幅度響應（yīng）、絕對相位及絕對時延響應（yīng）測量能力。校準過程中引入雙混頻器（qì）實現參考（kǎo）通路變頻與校準通路的變（biàn）頻。引（yǐn）入的雙混頻器要求與（yǔ）被測件的變（biàn）頻特性一致，且校準混頻（pín）器（qì）要求變頻特性互易。
單次連接即可（kě）完（wán）成混頻器/變（biàn）頻器複數特性測量，幅度（dù）和相位測量精度高。
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增（zēng）益壓（yā）縮測量
增益壓（yā）縮測量功能能夠通過一次連接、一次校準完成（chéng）有源（yuán）器件在工作頻帶內的線性（xìng）增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數（shù）測量。
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增益壓縮掃描三維圖繪製
提供三維視圖功能，更好（hǎo）地展示被測件在激勵狀態下的工作性能，另外還可以展示頻率切麵和功率切麵，可以直觀（guān）展現被測件在每個頻率點（diǎn）和每個功率點的特性。
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噪聲係（xì）數測量
一次連接（jiē），可（kě）同時測試S參數、噪聲係數、噪聲參數、增益壓縮和變（biàn）頻增益等多種參數。基於冷（lěng）源（yuán）噪聲係數測試方法，可進行精確的噪聲係（xì）數和噪聲參數測試。通過構建先進（jìn）的噪聲相關矩陣模型，結合（hé）矢量網絡分析儀精密的S參數校準，適用於較小噪聲係數被（bèi）測件的精確測試。測量動態範圍最大可達55dB，適用於較大增益被測（cè）件的測試。
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頻譜測量分（fèn）析（xī）
矢量網絡分析儀的（de）每個端口都可以完成被測件（jiàn）的輸入（rù）譜（pǔ）和輸出譜的測量，可在（zài）小的分辨率帶寬下快速地定位被測件（jiàn）雜散譜和諧波的狀態（tài）。
針對有源器件的測（cè）試，頻譜測量功能可提供更多的測量參（cān）數，單台儀器通（tōng）過單次連接可實現常規的S參數測試、雜散和諧波的定位測量（liàng）；完備（bèi）的比值（zhí）和絕對測量誤差修正技術可提供更準確的測量結果。
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信號完整性測量分析
具備強大的信號完整性測量分析能（néng）力，可提供微米級的空（kōng）間分辨率。單一視圖（tú）同時完成時域和頻（pín）域測試分析，可（kě）以精準測試傳輸（shū）線上阻抗特性的變化（huà）情況；便捷（jié）的近端與遠端串擾測試，用於測試多條傳輸線之間相互影響的程度。
高級時域分析選件具備基於網絡參數的虛擬（nǐ）眼圖生成及分析功能。根據不同的（de）高速數字（zì）通信標準，高級時域分析選件可以使用預（yù）先定義好的眼圖模板進行高效（xiào）率Pass/Fail測試。
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總（zǒng）諧波失真（THD）測量分析
寬（kuān）頻帶測試，可用於真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數的（de）分析，簡化差分器件的諧波性（xìng）能測試複雜度（dù）。
單次校準（zhǔn）同時完成多通道的誤（wù）差修正，設置和測（cè）量參（cān）數的編輯可通過XML文（wén）件的方式進行，一（yī）鍵實現參數導入。
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自（zì）動夾具移除
對於非標（biāo）準接頭器件測試，如封裝（zhuāng）微波器件、在片器件等，此類器件無法與矢（shǐ）量網絡分析儀直接相連（lián）。通常使用夾具將（jiāng）被測（cè）件連接到矢量網絡分析儀上（shàng），但同時夾具也引入了測量誤差。自動夾（jiá）具移除（chú）功能可以進行夾具參數的提取、存儲以及夾具去嵌入，最（zuì）終獲得被測件的真實參數（shù）。
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極致的用戶體驗
界麵（miàn）簡潔直觀，便於操作，提高測試效率
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外設接口豐富，靈活實用
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供靈活的測量配置，提供靈活的測量配置
5-外中頻（pín）輸入接口，脈衝輸入輸出接口（kǒu）
6-偏置T配（pèi）置輸入接口
7-自動測試接口，觸發輸入/輸出接口（kǒu），噪聲源（yuán）電源接口
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型號 |
重量 |
功耗 |
溫度範圍 |
掃（sǎo）描模式 |
掃描駐留時間 |
對比 |
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